Компания ЗАО «Ниеншанц», основанная в 1991 году, специализирующаяся на подборе, продаже и установке научно-исследовательского оборудования, совместно с Томским материаловедческим центром коллективного пользования, а также совместно с «Нано-Центром ТПУ», выражает Вам свое уважение и приглашает принять участие в научно-практическом семинаре:
_________________________________________________________________________________________________
«СОВРЕМЕННОЕ ОБОРУДОВАНИЕ ДЛЯ ИССЛЕДОВАНИЯ ПОВЕРХНОСТИ И СТРУКТУРЫ МАТЕРИАЛОВ В УЛЬТРАНАНО-, НАНО-, МИКРО- И МАКРО-ДИАПОЗОНАХ»
___________________________________________________________________________________________________________________________________________________________________________________
- Семинар совместно с Томским материаловедческим центром коллективного пользования:
Даты и время проведения: 16 июня 2010 года, 11:00
Место проведения: Томский государственный университет, главный корпус, конференц-зал, ауд. 229
- Семинар совместно с «Нано-Центром ТПУ»
Даты и время проведения: 18 июня 2010 года, 11:00
Место проведения: Национальный исследовательский
Томский политехнический университет, 15 учебный корпус, ауд. 203
В РАМКАХ СЕМИНАРА ЗАО «НИЕНШАНЦ» ОРГАНИЗУЕТ:
• Доклады по новейшим методикам исследования поверхности и структуры материалов с примерами практического применения оборудования;
• Раздачу каталогов;
• Кофе-паузы;
• Круглый стол.
В рамках семинара пройдет презентация возможностей оборудования следующих производителей: CSM Instruments (Швейцария), SkyScan (Бельгия), Buehler (Германия) и TesT (Германия).
CSM-Instuments, оборудование для исследования и прецизионных измерений механических и трибологических свойств на субмикронном и нанометровом уровнях, для оценки твердости, модуля Юнга, упругого восстановления, адгезионной прочности и износостойкости тонких пленок, покрытий в т.ч. многослойных и объемных материалов:
• Твердомеры – ультранано, нано и микродиапазон по нагрузке, инструментальное индентирование – определение твердости и пр. по глубине проникновения индентора и прилагаемой нагрузке. Твердомеры для индентирования в горячих камерах. Специальные камеры для проведения индентирования в вакууме, инертных газах, контролируемой температуре и влажности;
- Определение: твердость, модуль упругости, скрытая и рассеянная энергия деформации, эластичность, энергия разрушения (трещиностойкость), характер текучести, вид деформации;
• Скретч-тестеры – нано, микро и макродиапазон по нагрузке, измерительное царапание. Специальные камеры для проведения скретч-тестирования в вакууме, инертных газах, контролируемой температуре и влажности;
- Определение: адгезия покрытий, стойкость к царапанию, износостойкость, коэффициент трения;
• Трибометры – нано и микродиапазон по нагрузке. Вращательное и линейное движения. Трибометры вакуумные, высокого вакуума и высокотемпературные;
- Определение: коэффициент трения, степень износа, наработка на износ, фрикционные свойства смазок;
• Приборы для измерения толщин покрытий и степени износа методом шарового истирания;
• Модули атомно-силовой, конфокальной и оптической микроскопии для визуализации процесса исследования могут быть дополнительно установлены на платформы;
• Отдельные приборы или модульные решения на платформах.
Buehler, оборудование для пробоподготовки образцов к микроструктурному анализу, металлографии и петрографии:
• Абразивные и прецизионные отрезные станки, ручные и автоматические;
• Прессы для горячей запрессовки и холодной (вакуумной) заливки;
• Станки шлифовально-полировальные, ручные и автоматические;
• Электролитическая полировка и травление;
SkyScan, лабораторные рентгеновские томографы для неразрушающего исследования, визуализации и трёхмерного восстановления пространственной структуры объектов c измерением морфометрических плоскостных и пространственных параметров:
• Рентгеновские микротомографы для исследования внутренней структуры твёрдых образцов (конструкционных материалов, металлов и сплавов, геологических образцов и пр.) с разрешением в несколько микрон.
• Рентгеновский нанотомограф для исследования пространственной архитектуры объектов со структурными элементами нанометрового диапазона (нанопористые мембраны, тонкоплёночные покрытия и пр.) с разрешением 150 - 200 нанометров.
• Специализированный рентгеновский микротомографический модуль для использования в электронных микроскопах;
•Температурный столик, столик для растяжения-сжатия и микропозиционный столик для установки внутри томографов.
TesT, физико-механические испытания материалов:
• Испытательные машины для механических испытаний: растяжение, сжатие, изгиб; температурные испытания;
• Испытательные машины для испытания на усталостную прочность, в том числе и температурные;
• Испытательные машины для испытаний на кручение, кручение с изгибом;
• Копры маятниковые (определение ударной вязкости по Шарпи, Изоду);
• Твердомеры микро- и макротвердомеры по Виккерсу, Роквеллу, Кнупу;
• Универсальное программное обеспечение для испытаний материалов, деталей и проведения функциональных испытаний.
Labtech-Engineering, лабораторное оборудование для моделирования процессов обработки полимеров:
• Лабораторные вальцы;
• Гидравлические пресса с охлаждаемыми и нагреваемыми плитами;
• Одношнековые и двухшнековые экструдеры с модульными цилиндрами;
• Линии для проката, выдува однослойной и многослойной пленки и листов;
• Измельчающие системы, грануляторы барабанные стренговые и бокорежущие;
• Высокоскоростные смесители;
• Фильтр тестер.
ПРОГРАММА СЕМИНАРА
10:45
| Регистрация участников семинара. Раздача материалов.
|
| 11:00 | Вступительное слово |
| 11:05 | CSM-Instuments, оборудование для исследования и прецизионных измерений механических и трибологических свойств на субмикронном и нанометровом уровнях, для оценки твердости, модуля Юнга, упругого восстановления, адгезионной прочности и износостойкости тонких пленок, покрытий в т.ч. многослойных и объемных материалов (Ю.В. Могильников) |
| 12:30 | SkyScan, лабораторные рентгеновские томографы для неразрушающего исследования, визуализации и трёхмерного восстановления пространственной структуры объектов c измерением морфометрических плоскостных и пространственных параметров (И.Л. Краснов) |
| 13:00 | Кофе-пауза |
| 13:30 | Buehler, оборудование для пробоподготовки образцов к микроструктурному анализу, металлографии и петрографии (Д.В. Еремин) |
| 13:45 | TesT, физико-механические испытания материалов (Д.В. Еремин) |
| 14:00 | Labtech-Engineering, лабораторное оборудование для моделирования процессов обработки полимеров (Ю.В. Могильников) |
| 14:30 | Круглый стол |
Если вы приняли решение об участии в семинаре, пожалуйста,
вышлите заявку по электронной почте: eremin@nnz.ru
тел: (812) 326-59-25, (921) 790-54-52, Еремин Дмитрий Викторович
При отправке заявки укажите, пожалуйста, следующую информацию: название учреждения, Ф.И.О., должность, контактный телефон, количество человек, интересующие темы.
Интересующие темы:
1. Твердомеры – ультранано, нано и микродиапазон по нагрузке;
2. Скретч-тестеры – нано, микро и макродиапазон;
3. Трибометры – нано и микродиапазон;
4. Приборы для измерения толщин покрытий и степени износа;
5. Рентгеновские микротомографы;
6. Рентгеновские микротомографы геологические;
7. Рентгеновский нанотомограф;
8. Пробоподготовка к металлографии;
9. Пробоподготовка к петрографии;
10. Универсальные испытательные машины;
11. Копры;
12. Вальцы;
13. Экструдеры.
___________________________________________________________________________________________________________
БУДЕМ РАДЫ ВИДЕТЬ ВАС!